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静电放电（ESD）是电子设备中常见且难以避免的干扰源之一，尤其是在复杂的电子系统中，它对系统的稳定性和可靠性影响极大。近期，在进行静电放电（±6KV接触放电、±15KV空气放电）测试时，某P

C模块在多个端子（如USB、RJ45、HDMI及耳机端子）遭遇了显示黑屏、图像异常及系统宕机死机现象。

问题现象及初步分析

在静电放电测试过程中，发现PC模块在以下几种条件下会出现系统宕机和黑屏现象：

对双层USB端子和RJ45端子的金属外壳进行±6KV的接触放电测试后，显示黑屏，画面异常；拔插HDMI信号后无法恢复显示，系统出现死机。
对耳机端子进行±15KV空气放电测试时，出现类似的黑屏和系统崩溃现象。
为了排除外部环境或个别样品的问题，测试在不同场地进行，且更换了多个样品，然而问题依旧存在，确认问题与设备本身的设计和布局相关。

系统崩溃的可能原因分析

通过对系统崩溃现象的深入分析，推测静电放电干扰可能通过以下几种途径影响到PC模块：

CPU受到静电干扰：静电放电可能使CPU工作异常，导致数据处理错误，进而引发系统宕机。
DDR内存模块受干扰：静电干扰可能通过DDR内存模块导致数据交换错误，引发系统崩溃。
电源供应异常：静电放电可能引发电源电压波动，若波动超过电压容限，会导致系统崩溃。
存储模块受

本文标签： 静电黑屏模块测试中PC

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